TK式LSI学習状態診断検査

TK式LSI 学習状態診断検査

著者: 河井 芳文  編:田中教育研究所

 

【適用範囲】1~6年

【実  施】各45分

  • 子どもの学習環境を、学習意欲、精神身体の健康、環境、親子関係の4領域(28項目)から診断します。
  • 孤立傾向、被害意識、学校不適応などの児童・生徒の学級内での様子が一目でわかります。登校拒否の予防やいじめの早期発見に役立ちます。
  • 教師用帳票ではすべての診断結果をグラフで表示しています。指導に役立つ診断コメント付きです。返却用の個人票は児童・生徒に自己理解を促します。
  • 知能検査、標準学力検査とのバッテリー診断ができます。それぞれの結果の相互関係から、学校不適応や学業不振の原因などが診断できます。

※検査の仕様は予告なく変更される場合がございます。詳しくは検査見本、カタログをご確認ください。



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