新学年別知能検査 サポート

サポート 学習支援システム

新学年別知能検査

岡本奎六・渋谷憲一・石田恒好・坂野雄二 著

内容・特色

知能を、認知・記憶・拡散思考・集中思考・評価の能力面から総合的・分析的に把握する。

学習スタイル診断カード(個人票)により、個性を生かす指導に役立つ。

クラス全体の検査結果を、標準得点の分布や、知能のタイプによって集計し、学級診断コメントが得られる。

標準学力検査NRT・CRTと相関利用ができる。

仕様

【対  象】

1年/2年/3年/4年/5年/6年

【実施時間】各40分

【採点処理】コンピュータ診断/学校採点



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