新学年別知能検査

 新学年別知能検査　

岡本奎六・渋谷憲一・石田恒好・坂野雄二　著

内容・特色

• 知能を、認知・記憶・拡散思考・集中思考・評価の能力面から総合的・分析的に把握する 。
• 学習スタイル診断カードにより、個性を生かす指導に役立つ。
• 診断結果を様々な角度から分析した、学習スタイル活用シートがある。
• ＮＲＴ学力検査との合理的相関利用ができる。

仕様

対象 小学校１年／２年／３年／４年／５年／６年
実施時間 各40分
採点処理 コンピュータ診断／手採点